SanDisk、「デジカメとメモリーカードはX線検査のダメージを受けない」

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SanDisk、「デジカメとメモリーカードはX線検査のダメージを受けない」

～I3Aと共同でテストを実施

　SanDiskは16日(現地時間)、国際映像産業協会(International Imaging Industry Association、I3A)、米国運輸保安局(U.S. Transportation Security Administration、TSA)と共同でテストした結果、交通機関の保安に使用されるX線検査装置は、デジタルカメラと記録媒体にダメージを及ぼさないと発表した。

　テストはニュージャージー州アトランティックシティのTSAセキュリティラボで、11月29日に行なわれた。画像が保存された様々なメーカーのSDメモリーカード、メモリースティック、メモリースティックPro、CF、スマートメディアを、実際に交通機関の設備で使用されているX線検査装置に繰り返しかけ、保存された画像と記録媒体に影響がないことを確認した。また、金属探知機による影響も、X線検査装置同様に認められなかった。

　同社では、デジタルカメラと画像記録媒体は、預け入れ荷物としても、機内持ち込み手荷物としても安全であり、明白なテストは行なわれていないが、デジカメ付き携帯電話でも同様であるとしている。

■ ＵＲＬ
　 SanDisk(英文)
　 http://www.sandisk.com/
　ニュースリリース(英文)
　 http://www.sandisk.com/pressrelease/20041216.htm
　テスト結果(英文、PDF)
　 http://www.i3a.org/pdf/Electronic_Storage_Media_Test_Report_v4.pdf

（田中真一郎）
2004/12/17 17:21

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