特にスポットでは、露出のコントロールにAEロックが有効だ。測定した部分に測光枠を入れてシャッターボタンを半押しする。もちろん中央重点やマルチ測光でも使用できる。

特にスポットでは、露出のコントロールにAEロックが有効だ。測定した部分に測光枠を入れてシャッターボタンを半押しする。もちろん中央重点やマルチ測光でも使用できる。